我校主持制订的“扫描探针显微镜漂移测量方法”国际标准发布

发布时间:13-05-05 12:45分类:行业政策 标签:仪器信息网,仪器
  日前在仪器信息网上发布了相关仪器的国际标准政策,此政策的出台标志着行业的规范正在一步步的朝着国际化标准进军,对行业来说是一种非常好的兆头。
  该标准由中国科学技术大学工程科学学院黄文浩教授主持制订,主要针对制约扫描探针显微镜在纳米测量和纳米加工方面的进一步应用的问题而制订。扫描探针显微镜在纳米测量和纳米加工方面应用时,经常会遇到扫描速率较慢,漂移现象等制约。
  黄文浩教授致力于为该问题提出解决方案,在2006年*向国际标准化组织ISO/TC201提出了“扫描探针显微镜漂移速率测量方法标准”提案。自2007年该提案正式立项后,经过数年的努力,该标准终于在2011年顺利通过,并于近日正式发布。
  该标准通过将扫描探针显微镜作时纳米/秒的漂移大小和方向测量出来,从而规范仪器使用。该标准定义了漂移速率术语,以及SPM漂移速率的测量方法和测量程序,并对仪器功能等进行规范。该标准为扫描探针显微镜生产厂家提供了规范。同时也使得扫描探针显微镜在纳米级测量中的应用突破瓶颈,范围更加宽广和深入,推动纳米测量技术的发展。
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黄文浩教授致力于为该问题提出解决方案,在2006年就向国际标准化组织ISO/TC201提出了“扫描探针显微镜漂移速率测量方法标准”提案。自2007年该提案正式立项后,经过数年的努力,该标准终于在2011年顺利通过,并于近日正式发布。

相关研究工作受到国家自然科学基金、中科院知识创新工程重要方向性项目和科技部973项目资助。

近日,“扫描探针显微镜漂移测量方法(ISO11039:2012)”
国际标准已由国际标准化组织正式发布。

日前,由我校工程科学学院精密机械与精密仪器系黄文浩教授主持制订的国际标准“扫描探针显微镜漂移测量方法(ISO11039:2012)”已由国际标准化组织正式发布。

标签: 扫描探针显微镜

(工程科学学院、科技处)

该标准由中国科学技术大学工程科学学院黄文浩教授主持制订,主要针对制约扫描探针显微镜在纳米测量和纳米加工方面的进一步应用的问题而制订。扫描探针显微镜在纳米测量和纳米加工方面应用时,经常会遇到扫描速率较慢,漂移现象等制约。

自20世纪80年代扫描探针显微镜(Scanning-probe
microscopy,SPM)发明以来,由于其具有原子量级的分辨能力,极大地促进了纳米科学技术的发展,并已逐步形成了一种高新技术产业。SPM的工作原理是通过微小探针在样品表面进行扫描,将探针与样品表面间的相互作用转换为表面形貌和特性图像。由于扫描速率较慢,漂移现象在扫描过程中普遍存在,这制约了SPM在纳米测量和纳米加工方面的进一步应用。

该标准通过将扫描探针显微镜作时纳米/秒的漂移大小和方向测量出来,从而规范仪器使用。该标准定义了漂移速率专业术语,以及SPM漂移速率的测量方法和测量程序,并对仪器功能等进行规范。该标准为扫描探针显微镜生产厂家提供了规范。同时也使得扫描探针显微镜在纳米级测量中的应用突破瓶颈,范围更加宽广和深入,推动纳米测量技术的发展。

该标准定义了描述SPM在X、Y和Z方向的漂移速率的专业术语,规定了SPM漂移速率的测量方法和测量程序,对仪器的功能和工作环境以及测量报告内容均作了严格要求。该标准为SPM仪器生产厂家制定了漂移速率的有效参数规格,并且能帮助用户了解仪器的稳定性,以便设计有效的实验。该标准不仅适用于基于SPM测量图像的漂移速率评价方法,对其它纳米级测量仪器稳定性的评价也有着重要参考价值。

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黄文浩教授是我国纳米技术标准化技术委员会委员,近二十年来一直从事纳米技术与精密仪器领域的研制工作。在2006年,他向国际标准化组织ISO/TC201(表面化学分析技术委员会)提出了“扫描探针显微镜漂移速率测量方法标准”的提案,目的是要将SPM工作时纳米/秒的漂移大小和方向测量出来,以规范这类仪器的使用方法。2007年该提案正式立项,黄文浩教授被指定为该项目工作组的召集人。经过四年多的努力,SPM漂移测量方法标准的最终草案于2011年经全体成员国投票后顺利通过,并于2012年正式发布。

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